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半导体晶圆缺陷检测设备（ID:682236）
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| # | 文件名称 | 文件大小 |
|---|---|---|
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| 3 | 360截图20230710154332869.jpg | 45.33K |
| 4 | 360截图20230710154340130.jpg | 45.06K |
| 5 | 360截图20230710154344498.jpg | 37.60K |
| 6 | 半导体晶圆缺陷检测设备.stp | 6.13M |
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发布者
落后的皮皮虾
创作: 26599
粉丝: 290
加入时间：2022-09-02
模型信息
图纸格式：stp
文件大小：1.37M
所需金币：20
上传时间：2023-07-22 22:54:15
是否可编辑：可修改，不包括参数
版本：STEP
标签
半导体
晶圆
缺陷
检测
设备
图纸简介
半导体晶圆缺陷检测设备:能够实现对晶圆表面的详细观察和分析。它具有自动化的缺陷检测功能，可以通过图像处理和计算机视觉技术，快速准确地检测出晶圆表面上的各种缺陷，如划痕、凹凸、颗粒、孔洞等。
版权说明
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